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Design methodology and optimization of gate-driven NMOS ESD protection circuits in submicron CMOS processes
IEEE transactions on electron devices, 1998-12, Vol.45 (12), p.2448-2456
1998
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ESD in Silicon Integrated Circuits
2, 2002
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Failure mechanisms in MOS devices
1986
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An investigation of the nature and mechanisms of ESD damage in NMOS transistors
Solid-state electronics, 1989-03, Vol.32 (3), p.199-206
1989
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