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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on nuclear science, 2020-05, Vol.67 (5), p.811-817
2020
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Electronic traps for detection and population monitoring of adult fruit flies (Diptera: Tephritidae)
2018
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The Science of the total environment, 2019-05, Vol.665, p.968-981
2019
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2020 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2020, p.1-4
2020
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Computers and education, 2011-11, Vol.57 (3), p.1876-1884
2011
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IEEE transactions on nuclear science, 2014-08, Vol.61 (4), p.1849-1855
2014
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International journal of electrical power & energy systems, 2015-09, Vol.70, p.52-60
2015
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IEEE transactions on circuits and systems. II, Express briefs, 2010-04, Vol.57 (4), p.280-284
2010
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2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2010), 2010, p.429-434
2010
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2019 XXXIV Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), 2019, p.1-6
2019
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2019 14th International Conference on Advanced Technologies, Systems and Services in Telecommunications (TELSIKS), 2019, p.166-173
2019
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IET computers & digital techniques, 2007-09, Vol.1 (5), p.481-481
2007
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Electronics letters, 2002-08, Vol.38 (18), p.1028-1029
2002
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Journal of electronic testing, 2004-10, Vol.20 (5), p.543-552
2004
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Proceedings of the conference on Design, Automation & Test in Europe, 2014, p.1-6
2014
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2014 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2014, p.1-6
2014
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Revista argentina de endocrinología y metabolismo, 2015-07, Vol.52 (2), p.66-72
2015
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International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003, 2003, Vol.1, p.719-726
2003
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Proceedings - International Test Conference, 2002, p.947-953
2002
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Proceedings of the Conference on Design, Automation and Test in Europe, 2010, p.429-434
2010
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2017 12th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems In Nanoscale Era (DTIS), 2017, p.1-6
2017
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2011 Design, Automation & Test in Europe, 2011, p.1-6
2011
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Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, p.286-291
2001
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2009 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2009, p.791-795
2009
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2020 XXXV Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), 2020, p.1-6
2020
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