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- Andrieu, F
- Weber, O
- Mazurier, J
- Thomas, O
- Noel, J.-P
- Fenouillet-Béranger, C
- Mazellier, J.-P
- Perreau, P
- Poiroux, T
- Morand, Y
- Morel, T
- Allegret, S
- Loup, V
- Barnola, S
- Martin, F
- Damlencourt, J.-F
- Servin, I
- Cassé, M
- Garros, X
- Rozeau, O
- Jaud, M.-A
- Cibrario, G
- Cluzel, J
- Toffoli, A
- Allain, F
- Kies, R
- Lafond, D
- Delaye, V
- Tabone, C
- Tosti, L
- Brévard, L
- Gaud, P
- Paruchuri, V
- Bourdelle, K K
- Schwarzenbach, W
- Bonnin, O
- Nguyen, B.-Y
- Doris, B
- Bœuf, F
- Skotnicki, T
- Faynot, O
2010
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IEEE transactions on nuclear science, 2012-12, Vol.59 (6), p.2888-2893
2012
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IEEE transactions on nuclear science, 2012-08, Vol.59 (4), p.909-917
2012
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IEEE transactions on nuclear science, 2012-08, Vol.59 (4), p.909-917
2012
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IEEE transactions on nuclear science, 2012-08, Vol.59 (4), p.909
2012
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2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, p.23.4.1-23.4.4
- Steckel, J. S.
- Josse, E.
- Pattantyus-Abraham, A. G.
- Bidaud, M.
- Mortini, B.
- Bilgen, H.
- Arnaud, O.
- Allegret-Maret, S.
- Saguin, F.
- Mazet, L.
- Lhostis, S.
- Berger, T.
- Haxaire, K.
- Chapelon, L. L.
- Parmigiani, L.
- Gouraud, P.
- Brihoum, M.
- Bar, P.
- Guillermet, M.
- Favreau, S.
- Duru, R.
- Fantuz, J.
- Ricq, S.
- Ney, D.
- Hammad, I.
- Roy, D.
- Arnaud, A.
- Vianne, B.
- Nayak, G.
- Virollet, N.
- Farys, V.
- Malinge, P.
- Tournier, A.
- Lalanne, F.
- Crocherie, A.
- Galvier, J.
- Rabary, S.
- Noblanc, O.
- Wehbe-Alause, H.
- Acharya, S.
- Singh, A.
- Meitzner, J.
- Aher, D.
- Yang, H.
- Romero, J.
- Chen, B.
- Hsu, C.
- Cheng, K. C.
- Chang, Y.
- Sarmiento, M.
- Grange, C.
- Mazaleyrat, E.
- Rochereau, K.
2021
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2011 Symposium on VLSI Technology - Digest of Technical Papers, 2011, p.128-129
- Cheng, K.
- Khakifirooz, A.
- Kulkarni, P.
- Ponoth, S.
- Haran, B.
- Kumar, A.
- Adam, T.
- Reznicek, A.
- Loubet, N.
- He, H.
- Kuss, J.
- Wang, M.
- Levin, T. M.
- Monsieur, F.
- Liu, Q.
- Sreenivasan, R.
- Cai, J.
- Kimball, A.
- Mehta, S.
- Luning, S.
- Zhu, Y.
- Zhu, Z.
- Yamamoto, T.
- Bryant, A.
- Lin, C.
- Naczas, S.
- Jagannathan, H.
- Edge, L. F.
- Allegret-Maret, S.
- Dube, A.
- Kanakasabapathy, S.
- Schmitz, S.
- Inada, A.
- Seo, S.
- Raymond, M.
- Zhang, Z.
- Yagishita, A.
- Demarest, J.
- Li, J.
- Hopstaken, M.
- Berliner, N.
- Upham, A.
- Johnson, R.
- Holmes, S.
- Standaert, T.
- Smalley, M.
- Zamdmer, N.
- Ren, Z.
- Wu, T.
- Bu, H.
- Paruchuri, V.
- Sadana, D.
- Narayanan, V.
- Haensch, W.
- O'Neill, J.
- Hook, T.
- Khare, M.
- Doris, B.
2011
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MRS proceedings, 2003, Vol.786, Article E6.32
2003
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MRS proceedings, 2003, Vol.786
2003
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2011 Symposium on VLSI Circuits - Digest of Technical Papers, 2011, p.128-129
- Cheng, K.
- Khakifirooz, A.
- Kulkarni, P.
- Ponoth, S.
- Haran, B.
- Kumar, A.
- Adam, T.
- Reznicek, A.
- Loubet, N.
- He, H.
- Kuss, J.
- Wang, M.
- Levin, T. M.
- Monsieur, F.
- Liu, Q.
- Sreenivasan, R.
- Cai, J.
- Kimball, A.
- Mehta, S.
- Luning, S.
- Zhu, Y.
- Zhu, Z.
- Yamamoto, T.
- Bryant, A.
- Lin, C.
- Naczas, S.
- Jagannathan, H.
- Edge, L. F.
- Allegret-Maret, S.
- Dube, A.
- Kanakasabapathy, S.
- Schmitz, S.
- Inada, A.
- Seo, S.
- Raymond, M.
- Zhang, Z.
- Yagishita, A.
- Demarest, J.
- Li, J.
- Hopstaken, M.
- Berliner, N.
- Upham, A.
- Johnson, R.
- Holmes, S.
- Standaert, T.
- Smalley, M.
- Zamdmer, N.
- Ren, Z.
- Wu, T.
- Bu, H.
- Paruchuri, V.
- Sadana, D.
- Narayanan, V.
- Haensch, W.
- O'Neill, J.
- Hook, T.
- Khare, M.
- Doris, B.
2011
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World economy, 2019-03, Vol.42 (3), p.680-710
2019
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Journal of policy modeling, 2023-03, Vol.45 (2), p.266-285
2023
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Enfances, familles, générations, 2023-12
2023
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Enfances, familles, générations, 2023-12
2023
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Journal of banking & finance, 2017-01, Vol.74, p.24-37
2017
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Applied economics, 2018-01, Vol.50 (29), p.3128-3147
2018
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Applied economics, 2024-03, Vol.56 (15), p.1748-1762
2024
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Economic modelling, 2015-09, Vol.49, p.232-247
2015
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Entropy (Basel, Switzerland), 2023-07, Vol.25 (7), p.1032
2023
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World economy, 2019, Vol.42 (3), p.680-710
2019
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Journal of international money and finance, 2023-09, Vol.136, p.102867, Article 102867
2023
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Physical chemistry chemical physics : PCCP, 2024-01, Vol.26 (3), p.2218-2227
2024
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Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 2024-05, Vol.42 (3)
2024
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Journal of international money and finance, 2014-10, Vol.47, p.185-201
2014
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