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Microelectronic engineering, 2018-05, Vol.192, p.25-29
2018
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Physical review special topics. PRST-AB. Accelerators and beams, 2014-10, Vol.17 (10), p.103502, Article 103502
2014
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2011 IEEE 57th Holm Conference on Electrical Contacts (Holm), 2011, p.1-8
2011
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Microelectronic engineering, 2018-05, Vol.192, p.25-29
2018
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Surface and interface analysis, 2006-04, Vol.38 (4), p.801-804
2006
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European physical journal. Applied physics, 2010-02, Vol.49 (2), p.22903
2010
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Applied surface science, 2004-03, Vol.225 (1), p.309-317
2004
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Surface and interface analysis, 2006-04, Vol.38 (4), p.847-850
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Surface and interface analysis, 2006-04, Vol.38 (4), p.326-329
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Microelectronic engineering, 2016-08, Vol.162, p.40-44
2016
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2010 Proceedings of the 56th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, 2010, p.1-7
2010
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Microelectronic engineering, 2016-08, Vol.162, p.40-44
2016
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Revue de l'Electricité et de l'Electronique, 2003, Vol.- (2), p.38
2003
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Surface and interface analysis, 2004-08, Vol.36 (8), p.1210-1213
2004
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2017 IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, 2017, p.109-116
2017
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Surface and interface analysis, 2004-08, Vol.36 (8), p.780-783
2004
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