Sortiert nach
International journal of modelling & simulation, 2004-01, Vol.24 (1), p.26-36
2004
Volltextzugriff (PDF)
IEEE design & test of computers, 2002-01, Vol.19 (1), p.18-28
2002
Volltextzugriff (PDF)
Parallel computing, 1998-08, Vol.24 (8), p.1205-1222
1998
Volltextzugriff (PDF)
Journal of electronic testing, 1998-06, Vol.12 (3), p.171-185
1998
Volltextzugriff (PDF)
2007 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 2007, p.1-6
2007
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, 2004, Vol.2, p.1370-1371 Vol.2
2004
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings International Test Conference 1998 (IEEE Cat. No.98CH36270), 1998, p.926-933
1998
Volltextzugriff (PDF)
1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1997, p.94-99
1997
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of 1995 IEEE International Test Conference (ITC), 1995, p.781-788
1995
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the 8th International Conference on Telecommunications, 2005. ConTEL 2005, 2005, Vol.1, p.141-146
2005
Volltextzugriff (PDF)
International journal of modelling & simulation, 2005, Vol.24 (1)
2005
Volltextzugriff (PDF)
International Test Conference 1999. Proceedings (IEEE Cat. No.99CH37034), 1999, p.1126-1126
1999
Volltextzugriff (PDF)
IEEE design & test of computers, 2000-07, Vol.17 (3), p.34-42
2000
Volltextzugriff (PDF)
International journal of modelling & simulation, 2004, Vol.24 (1)
2004
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the Eighth IEEE International On-Line Testing Workshop (IOLTW 2002), 2002, p.184
2002
Volltextzugriff (PDF)
2011 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, 2011, p.321-322
2011
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe - Volume 2, 2004, p.21370-21370
2004
Volltextzugriff (PDF)
1994 International Conference on Parallel Processing Vol. 1, 1994, Vol.1, p.246-249
1994
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of Twentieth Euromicro Conference. System Architecture and Integration, 1994, p.689-696
1994
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings. International Semiconductor Conference, 2002, Vol.2, p.381-384 vol.2
2002
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of 1993 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1993, p.72-79
1993
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of 4th Euromicro Workshop on Parallel and Distributed Processing, 1996, p.305-309
1996
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the Fourth Asian Test Symposium, 1995, p.2-8
1995
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the Eighth IEEE International On-Line Testing Workshop (IOLTW 2002), 2002, p.191
2002
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the International Symposium on Parallel Architectures, Algorithms and Networks (ISPAN), 1994, p.326-333
1994
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- System Testing
- Technology
- Circuit Testing
- Computer Science
- Computer Science, Hardware & Architecture
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Fault Diagnosis
- Parallel Machines
- Routing
- Very Large Scale Integration
- Circuit Faults
- Costs
- Computer Architecture
- Concurrent Computing
- Delay
- Hardware
- Multiprocessing Systems
- Parallel Architectures
Kollektion
- IEEE Xplore
- Ingenta
- ScienceDirect Journals (5 years ago - present)
- IngentaConnect Journals
- EZB Electronic Journals Library
- Publisher
- Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect (DFG Nationallizenzen)
- Taylor & Francis:Master (3349 titles)
- JSTOR
- Taylor & Francis Journals Auto-Holdings Collection
- Taylor & Francis
- ACM Digital Library
- SpringerLINK Contemporary (Konsortium Baden-Württemberg)
- Ebook Central Perpetual and DDA
- Business Source Ultimate
- eBooks on EBSCOhost
- ProQuest Dissertations & Theses A&I
- ScienceDirect eBooks
- Springer journals
Zeitschrift / Serie