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Hot-Carrier Aging by Ultrafast Laser on 22FLL FinFET Technology
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.1-6
2024
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On the Correlation of Laser-induced and High-Energy Proton Beam-induced Single Event Latchup
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-5
2020
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Laser as a Tool to Study Radiation Effects in CMOS
2017
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Q&R On-Chip (QROC): A Unified, Oven-less and Scalable Circuit Reliability Platform
2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.1-6
2022
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Accelerated Hot-Carrier Aging Based on Ultrafast Laser for CMOS Technologies
2023 IEEE 14th Latin America Symposium on Circuits and Systems (LASCAS), 2023, p.1-3
2023
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Integral cross sections for the electron-impact excitation of the b 1 Π u , c 3 1 Π u , o 3 1 Π u , b ′ 1 Σ u + , c 4 ′ 1 Σ u + , G 3 Π u , and F 3 Π u states of N 2
Physical review. A, Atomic, molecular, and optical physics, 2012-06, Vol.85 (6), Article 062704
2012
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