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Evaluation of heavy-ion impact in bulk and FDSOI devices under ZTC condition
Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.655-659
2017
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Evaluation of radiation-induced soft error in majority voters designed in 7 nm FinFET technology
Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.660-664
2017
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Radiation hardening efficiency of gate sizing and transistor stacking based on standard cells
Microelectronics and reliability, 2019-09, Vol.100-101, p.113457, Article 113457
2019
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Single-Event Latchup sensitivity: Temperature effects and the role of the collected charge
Microelectronics and reliability, 2021-04, Vol.119, p.114087, Article 114087
2021
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Analysis of the charge sharing effect in the SET sensitivity of bulk 45 nm standard cell layouts under heavy ions
Microelectronics and reliability, 2018-09, Vol.88-90, p.920-924
2018
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Permanent and single event transient faults reliability evaluation EDA tool
Microelectronics and reliability, 2016-09, Vol.64, p.63-67
2016
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Design exploration of majority voter architectures based on the signal probability for TMR strategy optimization in space applications
Microelectronics and reliability, 2020-11, Vol.114, p.113877, Article 113877
2020
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Comparing analytical and Monte-Carlo-based simulation methods for logic gates SET sensitivity evaluation
Microelectronics and reliability, 2020-11, Vol.114, p.113871, Article 113871
2020
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Evaluation of radiation-induced soft error in majority voters designed in 7nm FinFET technology
Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.660-664
2017
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Reliability-driven pin assignment optimization to improve in-orbit soft-error rate
Microelectronics and reliability, 2020-11, Vol.114, p.113885, Article 113885
2020
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Single Event Latchup Cross Section Calculation from TCAD Simulations - Effects of the Doping Profiles and Anode to Cathode Spacing
2019 19th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2019, p.01-05
2019
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Design development and implementation of an irradiation station at the neutron time-of-flight facility at CERN
Physical review. Accelerators and beams, 2022-10, Vol.25 (10), Article 103001
2022
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Mitigation and Predictive Assessment of SET Immunity of Digital Logic Circuits for Space Missions
Aerospace, 2020-02, Vol.7 (2), p.12
2020
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Solute redistribution and phase stability at FeCr/TiO2−x interfaces under ion irradiation
Acta materialia, 2015-05, Vol.89 (C), p.364-373
2015
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Solute redistribution and phase stability at FeCr/TiO2− interfaces under ion irradiation
Acta materialia, 2015-05, Vol.89, p.364-373
2015
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