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Microelectronics and reliability, 2006-09, Vol.46 (9), p.1597-1602
2006
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IEEE transactions on electron devices, 1998-07, Vol.45 (7), p.1399-1406
1998
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Investigation of ESD performance of silicide-blocked stacked NMOSFETs in a 45nm bulk CMOS technology
2008
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EOS/ESD 2008 - 2008 30th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2008, p.228-234
2008
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2006 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2006, p.276-280
2006
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2007 29th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2007, p.1A.4-1-1A.4-9
2007
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2023 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe & European Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe-EQEC), 2023, p.1-1
2023
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