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IEEE transactions on electron devices, 2012-11, Vol.59 (11), p.2869-2875
2012
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Microelectronics and reliability, 2005-09, Vol.45 (9), p.1639-1644
2005
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Microelectronics and reliability, 2005, Vol.45 (9-11), p.1639-1644
2005
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Proceedings of the 12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005. IPFA 2005, 2005, p.318-322
2005
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2006 Asia-Pacific Microwave Conference, 2006, p.575-578
2006
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EOS/ESD Symposium Proceedings, 2011, p.1-8
2011
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