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Electronics letters, 2017-02, Vol.53 (4), p.258-260
2017
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IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2017-01, Vol.66 (1), p.191-193
2017
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International journal of circuit theory and applications, 2017-09, Vol.45 (9), p.1203-1217
2017
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International journal of circuit theory and applications, 2018-10, Vol.46 (10), p.1838-1847
2018
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Measurement science & technology, 2014-08, Vol.25 (8), p.87002-4
2014
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Microelectronics and reliability, 2011-12, Vol.51 (12), p.2351-2356
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IEEE photonics technology letters, 2017-04, Vol.29 (7), p.587-590
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International journal of circuit theory and applications, 2014-02, Vol.42 (2), p.146-164
2014
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2018
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2020 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2020, p.1-5
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2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2018, p.1-5
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2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2015, p.3060-3063
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2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2015, p.1818-1821
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2022 IFIP/IEEE 30th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2022, p.1-2
2022
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2022 IFIP/IEEE 30th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2022, p.1-2
2022
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2022 17th Conference on Ph.D Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), 2022, p.357-360
2022
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