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Microscopy and microanalysis, 2014-08, Vol.20 (S3), p.1894-1895
2014
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Microscopy and microanalysis, 2012-07, Vol.18 (S2), p.1074-1075
2012
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Ultramicroscopy, 2003-12, Vol.98 (1), p.63-72
2003
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Microscopy and microanalysis, 2015-08, Vol.21 (S3), p.1905-1906
2015
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Microscopy and microanalysis, 2014-08, Vol.20 (S3), p.1622-1623
2014
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Microscopy and microanalysis, 2014-08, Vol.20 (S3), p.1926-1927
2014
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Microscopy and microanalysis, 2012-07, Vol.18 (S2), p.1398-1399
2012
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Microscopy and microanalysis, 2012-07, Vol.18 (S2), p.1382-1383
2012
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Microscopy and microanalysis, 2012-07, Vol.18 (S2), p.1126-1127
2012
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Applied physics letters, 2003-03, Vol.82 (9), p.1473-1475
2003
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Geophysical research letters, 2005-10, Vol.32 (19), p.L19805-n/a
2005
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Microscopy and microanalysis, 2012-07, Vol.18 (S2), p.1298-1299
2012
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Physical review letters, 2001-03, Vol.86 (11), p.2467-2470
2001
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Microscopy and microanalysis, 2012-07, Vol.18 (S2), p.1718-1719
2012
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Microelectronic engineering, 2006-04, Vol.83 (4), p.1468-1470
2006
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Microscopy and microanalysis, 2012-07, Vol.18 (S2), p.1152-1153
2012
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Microscopy and microanalysis, 2012-07, Vol.18 (S2), p.402-403
2012
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Administration & society, 2015-03, Vol.47 (2), p.151-170
2015
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Journal of crystal growth, 2003-12, Vol.259 (3), p.232-244
2003
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Surface science, 2008-10, Vol.602 (20), p.3212-3219
2008
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Microscopy and microanalysis, 2012-07, Vol.18 (S2), p.1180-1181
2012
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