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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...International journal of geomechanics, 2017-09, Vol.17 (9)
2017
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Electronics letters, 2014-10, Vol.50 (21), p.1547-1549
2014
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Electronics letters, 2013-08, Vol.49 (16), p.1018-1020
2013
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IEEE transactions on electron devices, 2008-11, Vol.55 (11), p.3274-3282
2008
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2013 26th International Conference on VLSI Design and 2013 12th International Conference on Embedded Systems, 2013, p.136-141
2013
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2013 26th International Conference on VLSI Design and 2013 12th International Conference on Embedded Systems, 2013, p.215-220
2013
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IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2016-10, Vol.58 (5), p.1609-1616
2016
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Geotechnical testing journal, 2018-03, Vol.41 (2), p.292-306
2018
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IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2018-12, Vol.60 (6), p.1907-1914
2018
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IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2018-08, Vol.60 (4), p.958-964
2018
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IEEE transactions on electron devices, 2011-06, Vol.58 (6), p.1597-1607
2011
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IEEE transactions on electron devices, 2010-09, Vol.57 (9), p.2235-2242
2010
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IEEE transactions on electron devices, 2010-09, Vol.57 (9), p.2243-2250
2010
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2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2014, p.703-708
2014
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The international journal of pavement engineering, 2018-12, Vol.19 (12), p.1087-1095
2018
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2012 IEEE 55th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS), 2012, p.706-709
2012
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2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2010, p.3349-3352
2010
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On the failure mechanism and current instabilities in RESURF type DeNMOS device under ESD conditions
2010
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2010 53rd IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems, 2010, p.497-500
2010
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2019 IEEE MTT-S International Microwave and RF Conference (IMARC), 2019, p.1-4
2019
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Proceedings of ASP-DAC/VLSI Design 2002. 7th Asia and South Pacific Design Automation Conference and 15h International Conference on VLSI Design, 2002, p.317-322
2002
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Proceedings of the 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (Cat. No.02TH8614), 2002, p.35-39
2002
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2013 International Conference on Emerging Trends in VLSI, Embedded System, Nano Electronics and Telecommunication System (ICEVENT), 2013, p.1-4
2013
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2011 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, 2011, p.78-83
2011
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Thirteenth International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2012, p.173-178
2012
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