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2007
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Microelectronic engineering, 2009-07, Vol.86 (7), p.1957-1960
2009
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Microelectronic engineering, 2008-12, Vol.85 (12), p.2403-2405
2008
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Nanotechnology, 2007-06, Vol.18 (23), p.235204-235204 (4)
2007
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Microelectronics and reliability, 2005-03, Vol.45 (3), p.419-426
2005
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Journal of microelectromechanical systems, 1997-12, Vol.6 (4), p.363-372
1997
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 (AIP Conference Proceedings Volume 931), 2007, Vol.931, p.308-314
2007
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2006-01, Vol.24 (1), p.404-407
2006
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Microelectronics and reliability, 2005-05, Vol.45 (5), p.783-785
2005
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IEEE transactions on nanotechnology, 2007-03, Vol.6 (2), p.256-262
2007
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Microelectronic engineering, 2001-11, Vol.59 (1), p.73-83
2001
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Microelectronics and reliability, 1998-06, Vol.38 (6-8), p.1121-1125
1998
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2008 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2008, p.72-78
2008
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Nanotechnology, 2005-08, Vol.16 (8), p.1294-1299
2005
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Microelectronics and reliability, 1992-11, Vol.32 (11), p.1527-1532
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Microelectronics, 1996-10, Vol.27 (7), p.657-665
1996
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ACS applied materials & interfaces, 2015-12, Vol.7 (49), p.27306-27313
2015
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Nano letters, 2013-01, Vol.13 (1), p.131-136
2013
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Nanotechnology, 2017-10, Vol.28 (43), p.435601-435601
2017
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 (AIP Conference Proceedings Volume 931), 2007, Vol.931, p.297-302
2007
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Microelectronics and reliability, 1996-11, Vol.36 (11-12), p.1655-1658
1996
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