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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...The Prostate, 2017-08, Vol.77 (11), p.1205-1212
2017
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International journal of molecular sciences, 2021-04, Vol.22 (8), p.4109
2021
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Molecular cancer research, 2018-11, Vol.16 (11), p.1625-1640
- Jakhar, Rekha
- Luijten, Monique N H
- Wong, Alex X F
- Cheng, Bing
- Guo, Ke
- Neo, Suat P
- Au, Bijin
- Kulkarni, Madhura
- Lim, Kah J
- Maimaiti, Jiamila
- Chong, Han C
- Lim, Elaine H
- Tan, Tee B K
- Ong, Kong W
- Sim, Yirong
- Wong, Jill S L
- Khoo, James B K
- Ho, Juliana T S
- Chua, Boon T
- Sinha, Indrajit
- Wang, Xiaomeng
- Connolly, John E
- Gunaratne, Jayantha
- Crasta, Karen C
2018
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Global knowledge, memory and communication, 2021-02, Vol.70 (1/2), p.25-43
2021
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European journal of nuclear medicine and molecular imaging, 2017-11, Vol.44 (12), p.2025-2033
2017
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18F-FDG-PET/CT imaging of uterine cervical cancer recurrence in women with and without HIV infection
2022
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IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2004-02, Vol.46 (1), p.102-106
2004
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Nuclear medicine communications, 2017-03, Vol.38 (3), p.222-227
2017
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The Journal of hand surgery (American ed.), 2012-09, Vol.37 (9), p.1845-1851
2012
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Nuklearmedizin. Nuclear medicine, 2018-09, Vol.57 (5), p.190
2018
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International journal of oral and maxillofacial surgery, 2007-04, Vol.36 (4), p.315-320
2007
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Current problems in cancer. Case reports, 2021-03, Vol.3, p.100038, Article 100038
2021
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Journal of applied physics, 2010-04, Vol.107 (8), p.083906-083906-6
2010
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The Journal of physics and chemistry of solids, 2014-02, Vol.75 (2), p.230-235
2014
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eLife, 2019-12, Vol.8
2019
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2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.2.3.1-2.3.4
- Naik, V. B.
- Lim, J. H.
- Lee, T. Y.
- Neo, W. P.
- Dixit, H.
- K, S.
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Zeng, D.
- Ting, J. W.
- Lee, K.
- Toh, E. H.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Zhang, L. Y.
- Gan, K. W.
- Hau, L. Y.
- Mueller, J.
- Pfefferling, B.
- Kallensee, O.
- Yamane, K.
- Tan, S. L.
- Seet, C. S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
- Pellerin, J.
- Chao, R.
- Kwon, J.
- Thiyagarajah, N.
- Chung, N. L.
- Jang, S. H.
- Behin-Aein, B.
2019
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Smart materials and structures, 2001-10, Vol.10 (5), p.1107-1110
2001
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IEEE journal of quantum electronics, 2006-11, Vol.42 (11), p.1107-1114
2006
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Physica status solidi. A, Applications and materials science, 2007-03, Vol.204 (3), p.755-762
2007
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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.6B.3-1-6B.3-6
2022
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-4
- Lee, T. Y.
- Yamane, K.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Chung, N. L.
- Naik, V. B.
- Sivabalan, K.
- Kwon, J.
- Lim, J. H.
- Neo, W. P.
- Khua, K.
- Thiyagarajah, N.
- Jang, S. H.
- Behin-Aein, B.
- Toh, E. H.
- Otani, Y.
- Zeng, D.
- Balasankaran, N.
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Tan, S. L
- Seet, C. S.
- Ting, J. W.
- Ong, S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
2020
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Naik, V. B.
- Yamane, K.
- Lim, J. H.
- Lee, T. Y.
- Kwon, J.
- Aein, Behin
- Chung, N. L.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Zeng, D.
- Otani, Y.
- Chiang, C
- Huang, Y.
- Pu, L.
- Thiyagarajah, N.
- Jang, S. H.
- Neo, W. P.
- Dixit, H.
- Aris, S.K
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Ting, J. W.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Seet, C. S.
- Ong, S.
- Wong, J.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Siah, S. Y.
2020
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Lee, T. Y.
- Yamane, K.
- Kwon, J.
- Naik, V. B.
- Otani, Y.
- Zeng, D.
- Lim, J. H.
- Sivabalan, K.
- Chiang, C.
- Huang, Y.
- Jang, S. H.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Chung, N. L.
- Neo, W. P.
- Khua, K.
- Thiyagarajah, N.
- Ling, T.
- Goh, L. C.
- Hwang, J.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Tan, F.
- Wong, J.
- Seet, C. S.
- Ting, J. W.
- Ong, S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Siah, S. Y.
2020
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The journal of gene medicine, 2005-07, Vol.7 (7), p.945-955
2005
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IEEE microwave and wireless components letters, 2003-01, Vol.13 (1), p.24-26
2003
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