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2005
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Solid-state electronics, 2005-11, Vol.49 (11), p.1754-1758
2005
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Physical review letters, 1989-11, Vol.63 (19), p.2088-2091
1989
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Physical review. B, Condensed matter, 1996-06, Vol.53 (24), p.16474-16480
1996
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MRS proceedings, 1998, Vol.532, Article 153
1998
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 1992-01, Vol.10 (1), p.183-186
1992
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Applied physics letters, 1994-07, Vol.65 (4), p.460-462
1994
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 1995-11, Vol.13 (6), p.2284-2288
1995
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Journal of applied physics, 2023-02, Vol.133 (5)
2023
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Physica status solidi. A, Applications and materials science, 2020-02, Vol.217 (3), p.n/a
2020
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IEEE transactions on electron devices, 2018-06, Vol.65 (6), p.2061-2071
2018
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Journal of applied physics, 2016-02, Vol.119 (5)
2016
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Diamond and related materials, 2011-05, Vol.20 (5), p.798-802
2011
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Applied surface science, 2005-03, Vol.242 (1-2), p.35-54
2005
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Solid-state electronics, 2004-09, Vol.48 (9), p.1463-1473
2004
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Journal of applied physics, 2000-06, Vol.87 (11), p.8103-8112
2000
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Applied surface science, 2003-04, Vol.211 (1), p.136-145
2003
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Journal of applied physics, 1997-08, Vol.82 (4), p.1860-1867
1997
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Applied surface science, 1997-02, Vol.111, p.251-258
1997
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Applied surface science, 2002-05, Vol.191 (1-4), p.52-60
2002
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Applied surface science, 2002-05, Vol.191 (1-4), p.44-51
2002
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Physical review. B, Condensed matter, 1997-08, Vol.56 (8), p.R4410-R4416
1997
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Journal of applied physics, 2004-07, Vol.96 (1), p.446-453
2004
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Microelectronics and reliability, 2007-04, Vol.47 (4), p.585-592
2007
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