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Evaluation of the temperature dependence of dielectric properties using probe-backside reflection method at millimeter-wave frequencies
Japanese Journal of Applied Physics, 2021-11, Vol.60 (SF), p.SFFC01
2021
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Impact of circuit metallization on dielectric permittivity measurement by scanning microwave microscopy
Japanese Journal of Applied Physics, 2020-11, Vol.59 (SP), p.SPPE01
2020
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Frequency stabilization of 421.671 nm second-harmonic generation for studies of 88Sr+ ions confined in an RF trap
Optical review (Tokyo, Japan), 2001, Vol.8 (5), p.409-411
2001
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