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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2003-05, Vol.16 (2), p.249-252
2003
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Solid-state electronics, 2002-11, Vol.46 (11), p.1839-1847
2002
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Microelectronic engineering, 2001-11, Vol.59 (1), p.67-72
2001
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The 2N3055: a case history
IEEE transactions on electron devices, 2001-11, Vol.48 (11), p.2477-2484
2001
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International journal of pressure vessels and piping, 2001-02, Vol.78 (2), p.185-196
2001
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2000 5th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.00TH8479), 2000, p.129-132
2000
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Physics of fluids. B, Plasma physics, 1991-07, Vol.3 (7), p.1701-1707
1991
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Physics of fluids. B, Plasma physics, 1990-01, Vol.2 (1), p.143-159
1990
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IEEE transactions on magnetics, 1989-03, Vol.25 (2), p.1734-1737
1989
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Neutrino absorption by deuterium
Nuclear physics. A, 1968-01, Vol.114 (3), p.636-640
1968
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