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Digital neutron/gamma discrimination with an organic scintillator at energies between 1 MeV and 100 MeV
Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2015-02, Vol.772, p.43-49
2015
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Determination of the dominant diffusing species during nickel and palladium germanide formation
Thin solid films, 2012-12, Vol.526, p.261-268
2012
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Interface reactions between Pd thin films and SiC by thermal annealing and SHI irradiation
Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 2016-03, Vol.371, p.263-267
2016
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Femtosecond cellular transfection using a nondiffracting light beam
Applied physics letters, 2007-07, Vol.91 (5), p.053902-053902-3
2007
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Real-time in situ study of hydrogen diffusion in amorphous Si formed by ion implantation
Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 2011-11, Vol.269 (22), p.2657-2661
2011
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The influence of Pt redistribution on Ni1−xPtxSi growth properties
Journal of applied physics, 2010-08, Vol.108 (4)
2010
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Artificial neural networks for instantaneous analysis of real-time Rutherford backscattering spectra
Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 2010-05, Vol.268 (10), p.1676-1681
2010
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Pt redistribution during Ni(Pt) silicide formation
Applied physics letters, 2008-12, Vol.93 (26), p.261912-261912-3
2008
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On the growth kinetics of Ni(Pt) silicide thin films
Journal of applied physics, 2013-04, Vol.113 (16)
2013
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A new compact neutron/gamma ray scintillation detector
International Journal of Modern Physics: Conference Series, 2016, Vol.44, p.1660228
2016
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Effect of high temperature deposition on CoSi2 phase formation
Journal of applied physics, 2013-06, Vol.113 (23)
2013
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In situ study of the growth properties of Ni-rare earth silicides for interlayer and alloy systems on Si(100)
Journal of applied physics, 2012-02, Vol.111 (4), p.043511-043511-13
2012
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Simultaneous real-time x-ray diffraction spectroscopy, Rutherford backscattering spectrometry, and sheet resistance measurements to study thin film growth kinetics by Kissinger plots
Journal of applied physics, 2008-11, Vol.104 (10)
2008
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Nucleation and diffusion during growth of ternary Co1−xNixSi2 thin films studied by complementary techniques in real time
Journal of applied physics, 2008-11, Vol.104 (9)
2008
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