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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
- Cho, H.-J.
- Oh, H.S.
- Nam, K.J.
- Kim, Y.H.
- Yeo, K.H.
- Kim, W.D.
- Chung, Y.S.
- Nam, Y.S.
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- Kang, M.J.
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- Fukutome, H.
- Jeong, C.W.
- Shin, H.J.
- Kim, Y.S.
- Kim, D.W.
- Park, S.H.
- Jeong, J.H.
- Kim, S.B.
- Ha, D.W.
- Park, J.H.
- Rhee, H.S.
- Hyun, S.J.
- Shin, D.S.
- Kim, D.H.
- Kim, H.Y.
- Maeda, S.
- Lee, K.H.
- Kim, M.C.
- Koh, Y.S.
- Yoon, B.
- Shin, K.
- Lee, N.I.
- Kangh, S.B.
- Hwang, K.H.
- Lee, J.H.
- Ku, J.-H.
- Nam, S.W.
- Jung, S.M.
- Kang, H.K.
- Yoon, J.S.
- Jung, E.S.
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2007
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Applied physics letters, 1999-05, Vol.74 (18), p.2702-2704
1999
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