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2024
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Applied surface science, 2021-02, Vol.540, p.148281, Article 148281
2021
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Materials science in semiconductor processing, 2021-11, Vol.134, p.106025, Article 106025
2021
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Materials science in semiconductor processing, 2019-09, Vol.100, p.319-325
2019
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Surfaces and interfaces, 2023-10, Vol.41, p.103193, Article 103193
2023
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Applied surface science, 2015-12, Vol.359, p.372-379
2015
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Applied surface science, 2015-04, Vol.333, p.141-146
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2018-05, Vol.52 (5), p.639
2018
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2018-05, Vol.52 (5), p.618-621
2018
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2015, Vol.49 (1), p.60-68
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2014-07, Vol.48 (7), p.891-898
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Computer physics communications, 2002-08, Vol.147 (1), p.272-275
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Computer physics communications, 2002-08, Vol.147 (1), p.255-258
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Thin solid films, 2000-12, Vol.380 (1), p.61-63
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Applied surface science, 1998-01, Vol.123-124, p.729-733
1998
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Proceedings. 6th Annual. 2005 International Siberian Workshop and Tutorials on Electron Devices and Materials, 2005, 2005, p.41-44
2005
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2003 Siberian Russian Workshop on Electron Devices and Materials. Proceedings. 4th Annual (IEEE Cat. No.03EX664), 2003, p.21-26
2003
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Proceedings. 3rd Annual Siberian Russian Workshop on Electron Devices and Materials, 2002, Vol.1, p.3 pp.
2002
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