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Precession technique and electron diffractometry as new tools for crystal structure analysis and chemical bonding determination
Ultramicroscopy, 2007-06, Vol.107 (6), p.431-444
2007
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Delayering of Microelectronic Devices Using an Adjustable Broad-Beam Ion Source
Journal of physics. Conference series, 2013-01, Vol.471 (1), p.12046-4
2013
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Sample preparation for aberration-corrected microscopy of high-quality TEM specimens of advanced integrated circuits
Microscopy and microanalysis, 2018-08, Vol.24 (S1), p.150-151
2018
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Automated Sample Preparation for Environmentally Reactive Materials Systems
Microscopy and microanalysis, 2010-07, Vol.16 (S2), p.684-685
2010
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Plasma Cleaning and Its Applications for Electron Microscopy
Microscopy and microanalysis, 1999-03, Vol.5 (2), p.126-135
1999
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Raising the Standard of Specimen Preparation for Aberration-Corrected TEM and STEM
Microscopy today, 2011-01, Vol.19 (1), p.16-19
2011
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