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NBTI and HCD aware behavioral models for reliability analysis of analog CMOS circuits
2015 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2015, p.CA.1.1-CA.1.6
2015
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Modeling of an analog recording system design for ECoG and AP signals
2014 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2014, p.1-6
2014
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Parameter Extraction for a Simplified EKV-model in a 28nm FDSOI Technology
2020 27th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and System (MIXDES), 2020, p.45-49
2020
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LUT-Based Stochastic Modeling for Non-Normal Performance Distributions
2018 15th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2018, p.1-217
2018
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ReSeMBleD-Methods for Response Surface Model Behavioral Description
2018 15th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2018, p.157-160
2018
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Optimum Operating Points of Transistors with minimal Aging-Aware Sensitivity
2015 28th Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (SBCCI), 2015, p.1-7
2015
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Behavioral modeling of a sensor interface circuit including various non-idealities
2017 14th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2017, p.1-4
2017
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Design and verification of analog CMOS circuits using the gm/ID-method with age-dependent degradation effects
2016 26th International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 2016, p.136-141
2016
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An aging-aware transistor sizing tool regarding BTI and HCD degradation modes
2015 22nd International Conference Mixed Design of Integrated Circuits & Systems (MIXDES), 2015, p.272-277
2015
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Analog behavioral modeling for age-dependent degradation of complex analog circuits
2014 Proceedings of the 21st International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES), 2014, p.317-322
2014
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