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2008
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Materials science in semiconductor processing, 2017-11, Vol.70, p.105-110
2017
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Physical review. B, 1997-08, Vol.56 (8), p.R4371-R4374
1997
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Journal of the Electrochemical Society, 2000-08, Vol.147 (8), p.3100
2000
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AIP conference proceedings, 2007, Vol.931 (1), p.362-366
2007
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 (AIP Conference Proceedings Volume 931), 2007, Vol.931, p.99-104
2007
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Physica status solidi. A, Applied research, 1998-12, Vol.170 (2), p.221-226
1998
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Physical review. B, Condensed matter, 1999, Vol.60 (8), p.6018-6022
1999
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