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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on electron devices, 2015-09, Vol.62 (9), p.2751-2759
2015
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IEEE transactions on electron devices, 2015-09, Vol.62 (9), p.2760-2768
2015
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IEICE transactions on electronics, 2005-05, Vol.E88-C (5), p.829-837
2005
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Proceedings of 35th European Solid-State Device Research Conference, 2005. ESSDERC 2005, 2005, p.469-472
2005
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ESSDERC 2007 - 37th European Solid State Device Research Conference, 2007, p.187-190
2007
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Solid-state electronics, 2004-04, Vol.48 (4), p.597-608
2004
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2009 21st International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's, 2009, p.96-99
2009
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2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2006, p.65-70
2006
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Microelectronics and reliability, 1997, Vol.37 (1), p.53-60
1997
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Proceedings of 35th European Solid-State Device Research Conference, 2005. ESSDERC 2005, 2005, p.281-284
2005
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2008 9th International Conference on Ultimate Integration of Silicon, 2008, p.163-166
2008
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Research in Microelectronics and Electronics, 2005 PhD, 2005, Vol.2, p.71-74
2005
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2007 IEEE International Electron Devices Meeting, 2007, p.553-556
2007
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International Conference on Microelectronic Test Structures, 2003, 2003, p.191-196
2003
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ICMTS 2001. Proceedings of the 2001 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.01CH37153), 2001, p.263-267
2001
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Proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures (IEEE Cat. No.04CH37516), 2004, p.149-154
2004
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