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An Evaluation of An Ultralow Background Alpha-Particle Detector
IEEE transactions on nuclear science, 2009-12, Vol.56 (6), p.3381-3386
2009
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Flip-Flop Upsets From Single-Event-Transients in 65 nm Clock Circuits
IEEE transactions on nuclear science, 2009-12, Vol.56 (6), p.3145-3151
2009
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Single-Event-Upset Critical Charge Measurements and Modeling of 65 nm Silicon-on-Insulator Latches and Memory Cells
IEEE transactions on nuclear science, 2006-12, Vol.53 (6), p.3512-3517
2006
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Low-Energy Proton-Induced Single-Event-Upsets in 65 nm Node, Silicon-on-Insulator, Latches and Memory Cells
IEEE transactions on nuclear science, 2007-12, Vol.54 (6), p.2474-2479
2007
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Low Energy Proton Single-Event-Upset Test Results on 65 nm SOI SRAM
IEEE transactions on nuclear science, 2008-12, Vol.55 (6), p.3394-3400
2008
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32 and 45 nm Radiation-Hardened-by-Design (RHBD) SOI Latches
IEEE transactions on nuclear science, 2011-12, Vol.58 (6), p.2702-2710
2011
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Stacked devices for SEU immune design
2010 IEEE International SOI Conference (SOI), 2010, p.1-2
2010
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Estimation of Heavy-Ion LET Thresholds in Advanced SOI IC Technologies From Two-Photon Absorption Laser Measurements
IEEE transactions on nuclear science, 2010-08, Vol.57 (4), p.1827-1834
2010
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Open Access
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Hardness Assurance Testing for Proton Direct Ionization Effects
IEEE transactions on nuclear science, 2012-08, Vol.59 (4), p.1197-1202
2012
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A 1.0-GHz single-issue 64-bit powerPC integer processor
IEEE journal of solid-state circuits, 1998-11, Vol.33 (11), p.1600-1608
1998
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Implementation of a self-resetting CMOS 64-bit parallel adder with enhanced testability
IEEE journal of solid-state circuits, 1999-08, Vol.34 (8), p.1108-1117
1999
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Alpha-Particle Emission Energy Spectra From Materials Used for Solder Bumps
IEEE transactions on nuclear science, 2010-12, Vol.57 (6), p.3251-3256
2010
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Minimizing inductive noise in system-on-a-chip with multiple power gating structures
ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705), 2003, p.635-638
2003
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Open Access
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Comparison of Single and Two-Photon Absorption for Laser Characterization of Single-Event Upsets in SOI SRAMs
IEEE transactions on nuclear science, 2011-12, Vol.58 (6), p.2968-2975
2011
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Combinatorial Peptide Libraries for Selecting Inorganic-Binding Proteins: A Step in Molecular Biomimetics
MRS proceedings, 2003, Vol.773, Article N8.1
2003
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Alpha-Particle, Carbon-Ion and Proton- Induced Flip-Flop Single-Event-Upsets in 65 nm Bulk Technology
IEEE transactions on nuclear science, 2008-12, Vol.55 (6), p.3375-3380
2008
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Latch Design Techniques for Mitigating Single Event Upsets in 65 nm SOI Device Technology
IEEE transactions on nuclear science, 2007-12, Vol.54 (6), p.2021-2027
2007
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Ion microbeam radiation system
IEEE transactions on nuclear science, 1993-04, Vol.40 (2), p.127-134
1993
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Electron beam tester measurements of switching noise in VLSI circuits
Microelectronic engineering, 1991, Vol.14 (2), p.109-120
1991
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Theoretical determination of the temporal and spatial structure of alpha-particle induced electron-hole pair generation in silicon
IEEE transactions on nuclear science, 2000-12, Vol.47 (6), p.2575-2579
2000
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Monte Carlo analysis of Josephson logic devices
IEEE transactions on magnetics, 1983-05, Vol.19 (3), p.1165-1169
1983
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A 12-ns low-temperature DRAM
IEEE transactions on electron devices, 1989-08, Vol.36 (8), p.1414-1422
1989
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Ion microbeam probing of sense amplifiers to analyze single event upsets in a CMOS DRAM
IEEE journal of solid-state circuits, 1991-02, Vol.26 (2), p.132-134
1991
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Self-biasing Josephson logic circuits
IEEE electron device letters, 1982-04, Vol.3 (4), p.93-96
1982
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An on-chip jitter measurement circuit with sub-picosecond resolution
Proceedings of the 31st European Solid-State Circuits Conference, 2005. ESSCIRC 2005, 2005, p.157-160
2005
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