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2019
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2002 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings. 40th Annual (Cat. No.02CH37320), 2002, p.241-247
2002
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2008
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2018 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2018, p.1-5
2018
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2009 Reliability of Compound Semiconductors Digest (ROCS), 2009, p.141-145
2009
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Reliability Evaluation of 0.1 μm AlSb/InAs HEMT Low Noise Amplifiers for Ultralow-Power Applications
2007
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1987
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Reliability and alleviation of premature on-state avalanche breakdown in deep submicron power PHEMTs
1997
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International Electron Devices Meeting 1998. Technical Digest (Cat. No.98CH36217), 1998, p.239-242
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GaAs IC Symposium. IEEE Gallium Arsenide Integrated Circuit Symposium. 19th Annual Technical Digest 1997, 1997, p.165-168
1997
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GaAs IC Symposium IEEE Gallium Arsenide Integrated Circuit Symposium. 18th Annual Technical Digest 1996, 1996, p.42-45
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Chemical engineering science, 2016-04, Vol.144, p.404-420
2016
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Discrete element modelling and experimental validation for the falling process of dry granular steps
2012
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ECS transactions, 2016-01, Vol.75 (14), p.757-767
2016
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IEEE journal of solid-state circuits, 2016-04, Vol.51 (4), p.845-859
- Jiangfeng Wu
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- Tao Wang
- Bo Shen
- Periasamy, Vijayaramalingam
- Ming-Hung Hsieh
- Chun-Ying Chen
- Lin He
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- Padyana, Aravind
- Yang, Vincent Cheng-Hsun
- Unruh, Gregory
- Wong, Jackie Koon Lun
- Hung, Bryan Juo-Jung
- Brandolini, Massimo
- Lin, Maco Sha-Ting
- Xi Chen
- Yen Ding
- Yen-Jen Ko
- Shin, Young J.
- Hung, Ada Hing T.
- Chen, Binning
- Dang, Cynthia
- Lakshminarasimhan, Deepak
- Hong Liu
- Lin, Jerry
- Kowen Lai
- Wassermann, Larry
- Shrivastava, Ayaskant
- Chi-Ming Hsiao
- Chun-Sheng Huang
- Jianlong Chen
- Krishnan, Lakshminarasimhan
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- Pin-En Su
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- Yau-Cheng Yang
- Cangiane, Pete
- Perlow, Randall
- Ngai, William
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- Chang, James Y. C.
- Xicheng Jiang
- Venes, Ardie
- Gomez, Ramon Ray
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