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IEEE transactions on signal processing, 2002-07, Vol.50 (7), p.1772-1779
2002
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IEEE transactions on nuclear science, 2005-10, Vol.52 (5), p.1555-1561
2005
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2004
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Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe; 16-20 Apr. 2007, 2007, p.876-881
2007
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2003-03, Vol.22 (3), p.346-351
2003
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Journal of signal processing systems, 2009-11, Vol.57 (2), p.263-283
2009
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Computers & electrical engineering, 2007-07, Vol.33 (4), p.249-268
2007
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BDD minimization by scatter search
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2002
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2008 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, 2008, p.2873-2876
2008
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Proceedings Ninth Great Lakes Symposium on VLSI, 1999, p.362-365
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Proceedings Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, 2004, Vol.1, p.732-733 Vol.1
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2010 International Conference on Microelectronics, 2010, p.176-179
2010
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2009 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 2009, p.874-877
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IEEE transactions on computers, 1994-01, Vol.43 (1), p.98-103
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Built-in self-test of a CMOS ALU
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2006 49th IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems, 2006, Vol.1, p.385-389
2006
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Fifth International Workshop on System-on-Chip for Real-Time Applications (IWSOC'05), 2005, p.24-29
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Proceedings of the 12th IEEE International Conference on Fuzzy Systems (Cat. No.03CH37442), 2003, p.185-188
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The 14th International Conference on Microelectronics, 2002, p.123-126
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2006 IEEE International Behavioral Modeling and Simulation Workshop, 2006, p.1-6
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Microelectronics, 2009-07, Vol.40 (7), p.1124-1134
2009
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