Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Journal of microelectromechanical systems, 2008-12, Vol.17 (6), p.1481-1488
2008
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2005-05, Vol.18 (2), p.238-245
2005
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2003-05, Vol.16 (2), p.199-206
2003
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2002-05, Vol.15 (2), p.214-222
2002
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2008-11, Vol.21 (4), p.495-503
2008
Volltextzugriff (PDF)
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2007, p.14-19
2007
Volltextzugriff (PDF)
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2007, p.165-170
2007
Volltextzugriff (PDF)
2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2006, p.124-129
2006
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 1994-08, Vol.7 (3), p.272-278
1994
Volltextzugriff (PDF)
Fabrication of 200nm field effect transistors by X-ray lithography using a laser-plasma X-ray source
1996
Volltextzugriff (PDF)
Electronics letters, 1993, Vol.29 (17), p.1573-1574
1993
Volltextzugriff (PDF)
Electronics letters, 1995-12, Vol.31 (25), p.2218-2219, Article 2218
1995
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 1995-02, Vol.27 (1), p.295-298
1995
Volltextzugriff (PDF)
2008 NASA/ESA Conference on Adaptive Hardware and Systems, 2008, p.147-154
2008
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures (IEEE Cat. No.04CH37516), 2004, p.29-34
2004
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the 2002 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2002. ICMTS 2002, 2002, p.157-162
2002
Volltextzugriff (PDF)
Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 1997-11, Vol.15 (6), p.2495-2502
1997
Volltextzugriff (PDF)
ICMTS 2001. Proceedings of the 2001 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.01CH37153), 2001, p.195-200
2001
Volltextzugriff (PDF)
ICMTS 93 Proceedings of the 1993 International Conference on Microelectronic Test Structures, 1993, p.275-280
1993
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the 1991 International Conference on Microelectronic Test Structures, 1990, p.23-28
1990
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of 1994 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 1994, p.81-84
1994
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on nuclear science, 1983-02, Vol.30 (1), p.63-66
- Gabioud, Bernard
- Aihara, H.
- Alston-Garnjost, M.
- Badtke, D. H.
- Bakken, J. A.
- Barbaro-Galtieri, A.
- Barnes, A. V.
- Barnett, B. A.
- Blumenfeld, B.
- Bross, A.
- Buchanan, C. D.
- Carithers, W. C.
- Chamberlain, O.
- Chiba, J.
- Chien, C-Y.
- Clark, A. R.
- Dahl, O. I.
- Day, C. T.
- Delpierre, P.
- Derby, K. A.
- Eberhard, P. H.
- Fancher, D. L.
- Fujii, H.
- Fujii, T.
- Gabioud, B.
- Gary, J. W.
- Gorn, W.
- Hadley, N. J.
- Hauptman, J. M.
- Heck, B.
- Hilke, H.
- Huth, J. E.
- Hylen, J.
- Iwasaki, H.
- Kamae, T.
- Kenney, R. W.
- Kerth, L. T.
- Koda, R.
- Kofler, R. R.
- Kwong, K. K.
- Layter, J. G.
- Lindsey, C. S.
- Loken, S. C.
- Lu, X-Q.
- Lynch, G. R.
- Madansky, L.
- Madaras, R. J.
- Majka, R.
- Mallet, J.
- Martin, P. S.
- Maruyama, K.
- Marx, J. N.
- Matthews, J. A. J.
- Melnikoff, S. O.
- Moses, W.
- Nemethy, P.
- Nygren, D. R.
- Oddone, P. J.
- Park, D.
- Pevsner, A.
- Pripstein, M.
- Robrish, P. R.
- Ronan, M. T.
- Ross, R. R.
- Rouse, F. R.
- Shapiro, G.
- Shapiro, M. D.
- Shen, B. C.
- Slater, W. E.
- Stevenson, M. L.
- Stork, D. H.
- Ticho, H. K.
- Toge, N.
- Urban, M.
- Van Dalen, G. J.
- van Tyen, R.
- Videau, H.
- Wayne, M.
- Wenzel, W. A.
- vanDaalen Wetters, R. F.
- Yamauchi, M.
- Zeller, M. E.
- Zhang, W-M.
1983
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on nuclear science, 1983-01, Vol.30 (1), p.76-81
- Aihara, H.
- Alston-Garnjost, M.
- Badtke, D. H.
- Bakken, J. A.
- Barbaro-Galtieri, A.
- Barnes, A. V.
- Barnett, B. A.
- Blumenfeld, B.
- Bross, A.
- Buchanan, C. D.
- Carithers, W. C.
- Chamberlain, O.
- Chiba, J.
- Chien, C-Y.
- Clark, A. R.
- Dahl, O. I.
- Day, C. T.
- Delpierre, P.
- Derby, K. A.
- Eberhard, P. H.
- Fancher, D. L.
- Fujii, H.
- Fujii, T.
- Gabioud, B.
- Gary, J. W.
- Gorn, W.
- Hadley, N. J.
- Hauptman, J. M.
- Heck, B.
- Hilke, H. J.
- Huth, J. E.
- Hylen, J.
- Iwasaki, H.
- Kamae, T.
- Kenney, R. W.
- Kerth, L. T.
- Koda, R.
- Kofler, R. R.
- Kwong, K. K.
- Layter, J. G.
- Lindsey, C. S.
- Loken, S. C.
- Lu, X-Q.
- Lynch, G. R.
- Madansky, L.
- Madaras, R. J.
- Majka, R.
- Mallet, J.
- Martin, P. S.
- Maruyama, K.
- Marx, J.N.
- Matthews, J. A. J.
- Melnikoff, S. O.
- Moses, W.
- Nemethy, P.
- Nygren, D. R.
- Oddone, P. J.
- Park, D.
- Pevsner, A.
- Pripstein, M.
- Robrish, P. R.
- Ronan, M. T.
- Ross, R. R.
- Rouse, F. R.
- Shapiro, G.
- Shapiro, M. D.
- Shen, B. C.
- Slater, W. E.
- Stevenson, M. L.
- Stork, D. H.
- Ticho, H. K.
- Toge, N.
- Urban, M.
- Van Dalen, G. J.
- van Tyen, R.
- Videau, H.
- Wayne, M.
- Wenzel, W. A.
- vanDaalen Wetters, R. F.
- Yamauchi, M.
- Zeller, M. E.
- Zhang, W-M.
- Madaras, Ronald J.
1983
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on nuclear science, 1983-02, Vol.30 (1), p.117-121
- Aihara, H.
- Alston-Garnjost, M.
- Badtke, D. H.
- Bakken, J. A.
- Barbaro-Galtieri, A.
- Barnes, A. V.
- Barnett, B. A.
- Blumenfeld, B.
- Bross, A.
- Buchanan, C. D.
- Carithers, W. C.
- Chamberlain, O.
- Chiba, J.
- Chien, C.-Y.
- Clark, A. R.
- Dahl, O. I.
- Day, C. T.
- Delpierre, P.
- Derby, K. A.
- Eberhard, P. H.
- Fancher, D. L.
- Fujii, H.
- Fujii, T.
- Gabioud, B.
- Gary, J. W.
- Gorn, W.
- Hadley, N. J.
- Hauptman, J. M.
- Heck, B.
- Hilke, H.
- Huth, J. E.
- Hylen, J.
- Iwasaki, H.
- Kamae, T.
- Kenney, R. W.
- Kerth, L. T.
- Koda, R.
- Kofler, R. R.
- Kwong, K. K.
- Layter, J. G.
- Lindsey, C.S.
- Loken, S. C.
- Lu, X.-Q.
- Lynch, G. R.
- Madansky, L.
- Madaras, R. J.
- Majka, R.
- Mallet, J.
- Martin, P. S.
- Maruyama, K.
- Marx, J. N.
- Matthews, J. A. J.
- Melnikoff, S. O.
- Moses, W.
- Nemethy, P.
- Nygren, D. R.
- Oddonel, P. J.
- Park, D.
- Pevsner, A.
- Pripstein, M.
- Robrish, P. R.
- Ronan, M. T.
- Ross, R. R.
- Rouse, F. R.
- Shapiro, G.
- Shapiro, M. D.
- Shen, B. C.
- Slater, W. E.
- Stevenson, M. L.
- Stork, D. H.
- Ticho, H. K.
- Toge, N.
- Urban, M.
- Van Dalen, G. J.
- van Tyen, R.
- Videau, H.
- Wayne, M.
- Wenzel, W. A.
- vanDaalen Wetters, R. F.
- Yamauchi, M.
- Zeller, M. E.
- Zhang, W.-M.
1983
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on nuclear science, 1983-02, Vol.30 (1), p.67-70
- Aihara, H.
- Alston-Garnjost, M.
- Badtke, D. H.
- Bakken, J. A.
- Barbaro-Galtieri, A.
- Barnes, A. V.
- Barnett, B. A.
- Blumenfeld, B. J.
- Bross, A.
- Buchanan, C. D.
- Carithers, W. C.
- Chamberlain, O.
- Chiba, J.
- Chien, C-Y
- Clark, A. R.
- Dahl, O. I.
- Day, C. T.
- Delpiee, P.
- Derby, K. A.
- Eberhard, P. H.
- Fancher, D. L.
- Fujii, H.
- Fujii, T.
- Gabioud, B.
- Gary, J. W.
- Gorn, W.
- Hadley, N. J.
- Hauptman, J. M.
- Heck, B.
- Hilke, H.
- Huth, J. E.
- Hylen, J.
- Iwasaki, H.
- Kamae, T.
- Kenney, R. W.
- Kerth, L. T.
- Koda, R.
- Kofler, R. R.
- Kwong, K. K.
- Layter, J. G.
- Lindsey, C. S.
- Loken, S. C.
- Lu, X-Q.
- Lynch, G. R.
- Madansky, L.
- Madaras, R. J.
- Majka, R.
- Mallet, J.
- Martin, P. S.
- Maruyama, K.
- Marx, J. N.
- Matthews, J. A. J.
- Melnikoff, S. O.
- Moses, W.
- Nemethy, P.
- Nygren, D. R.
- Oddone, P. J.
- Park, D.
- Pevsner, A.
- Pripstein, M.
- Robrish, P. R.
- Ronan, M. T.
- Ross, R. R.
- Rouse, F. R.
- Shapiro, G.
- Shapiro, M. D.
- Shen, B. C.
- Slater, W. E.
- Spangler, W. J.
- Stevenson, M. L.
- Stork, D. H.
- Ticho, H. K.
- Toge, N.
- Van Dalen, G. J.
- van Tyen, R.
- Videau, H.
- Wayne, M.
- Wenzel, W. A.
- vanDaalen Wetters, R. F.
- Yamauchi, M.
- Zeller, M. E.
- Zhang, W-M.
1983
Volltextzugriff (PDF)
Aktive Filter
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Engineering
- Science & Technology
- Technology
- Physics
- Applied Sciences
- Exact Sciences And Technology
- Physical Sciences
- Electronics
- Physics, Applied
- Testing
- Semiconductor Electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid State Devices
- Electric Variables Measurement
- Microelectronic Fabrication
- Copper
- Engineering, Manufacturing
- Nuclear Science & Technology
- Physics, Condensed Matter
- Electric Resistance
- Instruments & Instrumentation
Kollektion
Zeitschrift / Serie
- Ieee Transactions On Nuclear Science
- Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing
- Electronics Letters
- Microelectronic Engineering
- Ieee Spectrum
- Journal Of Microelectromechanical Systems
- Journal Of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics And Nanometer Structures
- Journal Of Vacuum Science & Technology. B, Microelectronics And Nanometer Structures Processing, Measurement And Phenomena