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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE electron device letters, 1997-05, Vol.18 (5), p.206-208
1997
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IEEE transactions on electron devices, 1998-07, Vol.45 (7), p.1487-1493
1998
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IEEE transactions on electron devices, 1998-01, Vol.45 (1), p.179-186
1998
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IEEE transactions on electron devices, 2000-03, Vol.47 (3), p.643-645
2000
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IEEE transactions on electron devices, 1999-06, Vol.46 (6), p.1290-1294
1999
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IEEE electron device letters, 1997-05, Vol.18 (5), p.200-202
1997
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1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Proceedings, 1997, p.165-168
1997
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Temperature characterization and modeling of electron and hole mobilities in MOS accumulation layers
1998
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