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IEEE electron device letters, 2008-04, Vol.29 (4), p.287-289
2008
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Microelectronics and reliability, 2010-06, Vol.50 (6), p.767-773
2010
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Microelectronics and reliability, 2011-02, Vol.51 (2), p.201-206
2011
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Microelectronics and reliability, 2010-06, Vol.50 (6), p.758-762
2010
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IEEE electron device letters, 2008-07, Vol.29 (7), p.665-667
2008
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Microelectronics and reliability, 2012, Vol.52 (1), p.33-38
2012
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