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Semi-Empirical Method for Estimation of Single-Event Upset Cross Section for SRAM DICE Cells
IEEE transactions on nuclear science, 2016-08, Vol.63 (4), p.2250-2256
2016
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Design of 65 nm CMOS SRAM for Space Applications: A Comparative Study
IEEE transactions on nuclear science, 2014-08, Vol.61 (4), p.1575-1582
2014
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Semi-Empirical Method for Estimation of Single-Event Upset Cross-Section for SRAM DICE Cells
2015 15th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2015, p.1-4
2015
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