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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2006-01, Vol.24 (1), p.381-389
2006
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2002-01, Vol.20 (1), p.451-458
2002
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Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 1995-05, Vol.13 (3), p.1699-1704
1995
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Journal of the Electrochemical Society, 1990-02, Vol.137 (2), p.679-683
1990
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Journal of the Electrochemical Society, 1993-01, Vol.140 (1), p.262-270
1993
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2006-01, Vol.24 (1), p.494-498
2006
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Solid-state electronics, 1990-12, Vol.33 (12), p.1587-1600
1990
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Solid-state electronics, 1988, Vol.31 (1), p.53-63
1988
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 1998-01, Vol.16 (1), p.320-326
1998
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 1998-01, Vol.16 (1), p.394-400
1998
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 1998-01, Vol.16 (1), p.401-405
1998
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Two-dimensional carrier profiling
Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 1992, Vol.10 (1), p.449-455
1992
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