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Monte Carlo simulation of the CHISEL flash memory cell
IEEE transactions on electron devices, 2000-10, Vol.47 (10), p.1873-1881
2000
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Drain disturb during CHISEL programming of NOR flash EEPROMs-physical mechanisms and impact of technological parameters
IEEE transactions on electron devices, 2004-05, Vol.51 (5), p.701-707
2004
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CHISEL programming operation of scaled NOR flash EEPROMs-effect of voltage scaling, device scaling and technological parameters
IEEE transactions on electron devices, 2003-10, Vol.50 (10), p.2104-2111
2003
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