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2018
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Measurement techniques, 2016-07, Vol.59 (4), p.345-350
2016
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Journal of physics. Conference series, 2020-09, Vol.1636 (1), p.12017
2020
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Nondestructive testing and evaluation, 2021-05, Vol.36 (3), p.261-277
2021
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Глобальная ядерная безопасность, 2022-10 (1), p.81-89
2022
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Глобальная ядерная безопасность, 2022-08 (2), p.55-72
2022
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Power technology and engineering, 2017, Vol.51 (2), p.203-210
2017
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Sensors and actuators. B, Chemical, 1998-05, Vol.48 (1-3), p.432-438
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Chemistry, Physics & Technology of Surface / Khimiya, Fizyka ta Tekhnologiya Poverhni, 2022-03, Vol.13 (1), p.3-35
2022
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Глобальная ядерная безопасность, 2024-03 (1), p.43-51
2024
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Глобальная ядерная безопасность, 2024-06 (2), p.40-51
2024
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Applied surface science, 2000-10, Vol.166 (1), p.349-353
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Materials science forum, 1995, Vol.173-174, p.215-220
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Semiconductor physics, quantum electronics, and optoelectronics, 2014-11, Vol.17 (4), p.368-373
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Technical physics, 2000-01, Vol.45 (11), p.1452-1456
2000
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 1993-03, Vol.27 (3), p.283-286
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Cryogenics (Guildford), 1973-01, Vol.13 (2), p.110-111
1973
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Mikrobiolohichnyĭ zhurnal (Kiev, Ukraine : 1993), 2000-11, Vol.62 (6), p.40
2000
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