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IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistors and materials
IEC 62860:2013(E) IEEE Std 1620-2008, 2013, p.1-28
2013
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IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistors and materials
IEC 62860:2013(E) IEEE Std 1620-2008, 2013, p.1-28
2013
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Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
IEEE Std 1620-2004, 2004, p.1-20
2004
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IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistor-based ring oscillators
IEC 62860-1:2013(E) IEEE Std. 1620.1-2006, 2013, p.1-26
2013
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IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistor-based ring oscillators
IEC 62860-1:2013(E) IEEE Std. 1620.1-2006, 2013, p.1-26
2013
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IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials - Redline
IEEE Std 1620-2008 (Revision of IEEE Std 1620-2004) - Redline, 2008, p.1-27
2008
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IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials - Redline
IEEE Std 1620-2008 (Revision of IEEE Std 1620-2004) - Redline, 2008, p.1-27
2008
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IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
IEEE Std 1620-2008, 2008, p.1-26
2008
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IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
IEEE Std 1620-2008, 2008, p.1-26
2008
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IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistor-Based Ring Oscillators
IEEE Std 1620.1-2006, 2006, p.1-16
2006
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IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistor-Based Ring Oscillators
IEEE Std 1620.1-2006, 2006, p.1-16
2006
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