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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on device and materials reliability, 2024-09, Vol.24 (3), p.380-389
2024
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IEEE industry applications magazine, 2024-07, Vol.30 (4), p.69-74
2024
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IEEE computer graphics and applications, 2024-07, Vol.44 (4), p.113-125
2024
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From Accelerated to Operating Conditions: How Trapped Charge Impacts on TDDB in SiO₂ and HfO₂ Stacks
2024
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2024-06, Vol.24 (2), p.168-173
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IEEE instrumentation & measurement magazine, 2024-06, Vol.27 (4), p.46-53
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Communications of the ACM, 2024-04, Vol.67 (4), p.80-84
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IEEE electrical insulation magazine, 2024-03, Vol.40 (2), p.33-44
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IEEE transactions on mobile computing, 2024-02, Vol.23 (2), p.1-15
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IEEE electrical insulation magazine, 2024-01, Vol.40 (1), p.15-23
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IEEE multimedia, 2024-01, Vol.31 (1), p.76-87
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IEEE instrumentation & measurement magazine, 2023-12, Vol.26 (9), p.12-20
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2023-12, Vol.23 (4), p.521-529
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Quality (Wheaton), 2023-12, Vol.62 (12), p.19-19
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IEEE instrumentation & measurement magazine, 2023-11, Vol.26 (8), p.4-9
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Journal of food process engineering, 2023-11, Vol.46 (11)
2023
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Communications of the ACM, 2023-11, Vol.66 (11), p.88-88
2023
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Communications of the ACM, 2023-11, Vol.66 (11), p.89-97
2023
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