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Digest of Technical Papers. 2005 Symposium on VLSI Technology, 2005, 2005, p.22-23
2005
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Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop, 2003 IEEEI/SEMI, 2003, p.9-16
2003
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2009 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference, 2009, p.272-275
2009
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2008 Symposium on VLSI Technology, 2008, p.186-187
2008
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2007 IEEE International Electron Devices Meeting, 2007, p.955-958
2007
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IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004, 2004, p.1055-1058
2004
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The 17th Annual SEMI/IEEE ASMC 2006 Conference, 2006, p.39-43
2006
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2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2016, p.17.5.1-17.5.4
2016
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2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2009, p.1-4
2009
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2006 International Electron Devices Meeting, 2006, p.1-4
2006
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2007 International Workshop on Junction Technology, 2007, p.137-140
2007
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2008 IEEE International Electron Devices Meeting, 2008, p.1-4
2008
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2006 International Electron Devices Meeting, 2006, p.1-4
2006
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ESSDERC '92: 22nd European Solid State Device Research conference, 1992, p.665-668
1992
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2009 International Workshop on Junction Technology, 2009, p.54-57
2009
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2007 15th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors, 2007, p.307-315
2007
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2006 International Interconnect Technology Conference, 2006, p.178-180
2006
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2006 International SiGe Technology and Device Meeting, 2006, p.1-2
2006
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2008 IEEE International Electron Devices Meeting, 2008, p.1-4
- Veloso, A.
- Demuynck, S.
- Ercken, M.
- Goethals, A.M.
- Demand, M.
- de Marneffe, J.-F.
- Altamirano, E.
- De Keersgieter, A.
- Delvaux, C.
- De Backer, J.
- Brus, S.
- Hermans, J.
- Baudemprez, B.
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- Lorusso, G.F.
- Baerts, C.
- Goossens, D.
- Vrancken, C.
- Mertens, S.
- Versluijs, J.J.
- Truffert, V.
- Huffman, C.
- Laidler, D.
- Heylen, N.
- Ong, P.
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- Hikavyy, A.
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- Pigneret, C.
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- Van Dijk, A.
- Shah, K.
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- Gelatos, J.
- Arghavani, R.
- Schreutelkamp, R.
- Boelen, P.
- Richard, O.
- Bender, H.
- Witters, L.
- Collaert, N.
- Rooyackers, R.
- Absil, P.
- Lauwers, A.
- Jurczak, M.
- Hoffmann, T.
- Vanhaelemeersch, S.
- Cartuyvels, R.
- Ronse, K.
- Biesemans, S.
2008
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2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2009, p.1-4
- Veloso, A.
- Demuynck, S.
- Ercken, M.
- Goethals, A.M.
- Locorotondo, S.
- Lazzarino, F.
- Altamirano, E.
- Huffman, C.
- De Keersgieter, A.
- Brus, S.
- Demand, M.
- Struyf, H.
- De Backer, J.
- Hermans, J.
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- Baudemprez, B.
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- Van Roey, F.
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- Ong, P.
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- Vrancken, C.
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- Dusa, M.
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- Van Dijk, A.
- Schreutelkamp, R.
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- Bender, H.
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- Beyer, G.P.
- Absil, P.
- Hoffmann, T.
- Ronse, K.
- Biesemans, S.
2009
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2006 International Symposium on VLSI Technology, Systems, and Applications, 2006, p.1-2
2006
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1992 International Technical Digest on Electron Devices Meeting, 1992, p.637-640
1992
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