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- Ionescu, Bogdan
- Müller, Henning
- Drăgulinescu, Ana Maria
- Idrissi-Yaghir, Ahmad
- Radzhabov, Ahmedkhan
- Herrera, Alba Garcia Seco de
- Andrei, Alexandra
- Stan, Alexandru
- Storås, Andrea M.
- Abacha, Asma Ben
- Lecouteux, Benjamin
- Stein, Benno
- Macaire, Cécile
- Friedrich, Christoph M.
- Schmidt, Cynthia Sabrina
- Schwab, Didier
- Esperança-Rodier, Emmanuelle
- Ioannidis, George
- Adams, Griffin
- Schäfer, Henning
- Manguinhas, Hugo
- Coman, Ioan
- Schöler, Johanna
- Kiesel, Johannes
- Rückert, Johannes
- Bloch, Louise
- Potthast, Martin
- Heinrich, Maximilian
- Yetisgen, Meliha
- Riegler, Michael A.
- Snider, Neal
- Halvorsen, Pål
- Brüngel, Raphael
- Hicks, Steven A.
- Thambawita, Vajira
- Kovalev, Vassili
- Prokopchuk, Yuri
- Yim, Wen-Wai
- Macdonald, Craig
- Ounis, Iadh
- Goharian, Nazli
- He, Yulan
- McDonald, Graham
- Tonellotto, Nicola
- Lipani, Aldo
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Advances in Information Retrieval, p.19-27
- Joly, Alexis
- Picek, Lukáš
- Kahl, Stefan
- Goëau, Hervé
- Espitalier, Vincent
- Botella, Christophe
- Deneu, Benjamin
- Marcos, Diego
- Estopinan, Joaquim
- Leblanc, Cesar
- Larcher, Théo
- Šulc, Milan
- Hrúz, Marek
- Servajean, Maximilien
- Matas, Jiří
- Glotin, Hervé
- Planqué, Robert
- Vellinga, Willem-Pier
- Klinck, Holger
- Denton, Tom
- Durso, Andrew M.
- Eggel, Ivan
- Bonnet, Pierre
- Müller, Henning
- Macdonald, Craig
- Ounis, Iadh
- Goharian, Nazli
- He, Yulan
- McDonald, Graham
- Tonellotto, Nicola
- Lipani, Aldo
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 (AIP Conference Proceedings Volume 931), 2007, Vol.931, p.489-496
2007
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Advances in Information Retrieval, 2004, p.112-126
2004
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AIP conference proceedings, 2011, Vol.1395 (1)
2011
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AIP conference proceedings, 2011, Vol.1395 (1)
2011
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AIP conference proceedings, 2011, Vol.1395 (1)
2011
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Advances in Information Retrieval, 2004, p.85-98
2004
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AIP conference proceedings, 2011, Vol.1395 (1)
2011
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Advances in Information Retrieval, 2004, p.296-310
2004
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Advances in Information Retrieval, 2004, p.197-208
2004
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AIP conference proceedings, 2011, Vol.1395 (1)
2011
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AIP conference proceedings, 2011, Vol.1395 (1)
2011
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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.175-180
2009
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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.23-28
2009
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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.324-327
2009
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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.94-98
2009
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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.45-49
2009
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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.261-265
2009
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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.80-83
2009
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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.114-121
2009
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 (AIP Conference Proceedings Volume 931), 2007, Vol.931, p.292-296
2007
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 (AIP Conference Proceedings Volume 931), 2007, Vol.931, p.530-534
2007
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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.99-103
2009
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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.280-284
2009
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