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2021 IEEE International Symposium on Mixed and Augmented Reality Adjunct (ISMAR-Adjunct), 2021, p.403-408
2021
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2020 IEEE 3rd International Conference on Dielectrics (ICD), 2020, p.685-688
2020
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Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation Volume 27A (AIP Conference Proceedings Volume 975), 2008, Vol.975, p.255-262
2008
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Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation Volume 27A (AIP Conference Proceedings Volume 975), 2008, Vol.975, p.294-304
2008
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Computer Safety, Reliability, and Security, 2003, p.275-288
2003
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2013 IEEE Symposium on Security and Privacy, 2013, p.415-429
2013
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AIP conference proceedings, 2007, Vol.894 (1)
2007
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2015 31st Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM), 2015, p.155-162
2015
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2024 IEEE Conference on Virtual Reality and 3D User Interfaces Abstracts and Workshops (VRW), 2024, p.458-461
2024
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2018 IEEE International Conference on Plasma Science (ICOPS), 2018, p.1-1
2018
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13th InterSociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems, 2012, p.1209-1218
2012
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AIP conference proceedings, 2006, Vol.AIP Conference Proceedings 838, p.225-228
2006
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2016 32nd Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM), 2016, p.185-191
2016
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13th InterSociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems, 2012, p.1131-1138
2012
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2022 IEEE Conference on Virtual Reality and 3D User Interfaces Abstracts and Workshops (VRW), 2022, p.914-915
2022
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2019 30th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2019, p.1-5
2019
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2023 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe & European Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe-EQEC), 2023, p.1-1
2023
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2020 IEEE 21st International Conference on Vacuum Electronics (IVEC), 2020, p.19-20
2020
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Journal of physics. Conference series, 2010, Vol.209 (1), p.012011
2010
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2023 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe & European Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe-EQEC), 2023, p.1-1
2023
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RöFo : Fortschritte auf dem Gebiet der Röntgenstrahlen und der bildgebende Verfahren, 2016, Vol.188 (S 01)
2016
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2016 15th IEEE Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITherm), 2016, p.1435-1443
2016
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