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2006
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13th Asian Test Symposium, 2004, p.308-312
2004
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Proceedings of the Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, 2002, p.73-79
2002
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EUROCON 2005 - The International Conference on "Computer as a Tool", 2005, Vol.1, p.25-28
2005
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Mis-match characterization of 1.8 V and 3.3 V devices in 0.18 /spl mu/m mixed signal CMOS technology
2001
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IEEE International Electron Devices Meeting 2003, 2003, p.2.5.1-2.5.4
- Chen, C.H.
- Chang, C.S.
- Chao, C.P.
- Kuan, J.F.
- Chang, C.L.
- Wang, S.H.
- Hsu, H.M.
- Lien, W.Y.
- Tsai, Y.C.
- Lin, H.C.
- Wu, C.C.
- Huang, C.F.
- Chen, S.M.
- Tseng, P.M.
- Chen, C.W.
- Ku, C.C.
- Lin, T.Y.
- Chang, C.F.
- Lin, H.J.
- Tsai, M.R.
- Chen, S.
- Chen, C.F.
- Wei, M.Y.
- Wang, Y.J.
- Lin, J.C.H.
- Chen, W.M.
- Chang, C.C.
- King, M.C.
- Huang, C.M.
- Lin, C.T.
- Guo, J.C.
- Chern, G.J.
- Tang, D.D.
- Sun, J.Y.C.
2003
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1999 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.99CH36325), 1999, p.11-12
- Diaz, C.H.
- Young, K.L.
- Hsu, J.H.
- Lin, J.C.H.
- Hou, C.S.
- Lin, C.T.
- Liaw, J.J.
- Wu, C.C.
- Su, C.W.
- Wang, C.H.
- Ting, J.K.
- Yang, S.S.
- Lee, K.Y.
- Wu, S.Y.
- Tsai, C.C.
- Tao, H.J.
- Jang, S.M.
- Shue, S.L.
- Hsieh, H.C.
- Wang, Y.Y.
- Chen, C.C.
- Yang, S.C.
- Fu, S.
- Chang, S.Z.
- Lo, T.C.
- Wu, J.Y.
- Shy, J.S.
- Liu, C.W.
- Chen, S.H.
- Lin, B.L.
- Liew, B.K.
- Yen, T.
- Yu, C.H.
- Chao, Y.C.
- Liang, M.S.
- Wang, C.
- Sun, J.Y.C.
1999
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Conference Proceedings. 2001 International Conference on Indium Phosphide and Related Materials. 13th IPRM (Cat. No.01CH37198), 2001, p.208-211
2001
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International Conference on Microelectronic Test Structures, 2003, 2003, p.103-106
2003
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