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InAsP quantum dot lasers
2015 IEEE Photonics Conference (IPC), 2015, p.573-574
2015
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Open Access
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Growth and characterisation of InAsP/AlGaInP QD laser structures
2016 Compound Semiconductor Week (CSW) [Includes 28th International Conference on Indium Phosphide & Related Materials (IPRM) & 43rd International Symposium on Compound Semiconductors (ISCS), 2016, p.1-2
2016
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O+2 probe-sample conditions for ultra low energy SIMS depth profiling of nanometre scale Sio.4Geo.6/Ge quantum wells
Surface and interface analysis, 2013, Vol.45 (1), p.348-351
2013
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Characterisation of Advanced LOCOS Isolation
ESSDERC '96: Proceedings of the 26th European Solid State Device Research Conference, 1996, p.623-626
1996
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Correction for the loss of depth resolution with accurate depth calibration when profiling with Cs+ at angles of incidence above 50° to normal
Applied surface science, 2003, Vol.203-04, p.260-263
2003
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Simulation of advanced-LOCOS capability for sub-0.25 micron CMOS isolation
SISPAD '97. 1997 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices. Technical Digest, 1997, p.185-188
1997
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On determining accurate positions, separations, and internal profiles for delta layers
Applied surface science, 2003, Vol.203-04, p.273-276
2003
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Electronics modernization as a competency
2009 IEEE/AIAA 28th Digital Avionics Systems Conference, 2009, p.1.D.3-1-1.D.3-9
2009
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The Effect of Oxide Patterned Layers on the Rapid Thermal Oxidation of Polycrystalline Silicon
29th European Solid-State Device Research Conference, 1999, Vol.1, p.424-427
1999
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