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2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings, 2004, p.522-526
2004
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Digest. International Electron Devices Meeting, 2002, p.931-934
2002
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Proceedings of the 11th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2004 (IEEE Cat. No.04TH8743), 2004, p.247-250
2004
- Link zum Volltext
Journal of dairy science, 2019-03, Vol.102 (3), p.2645-2656
2019
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Blood, 2019-10, Vol.134 (14), p.1176-1189
2019
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Nature biotechnology, 1999-08, Vol.17 (8), p.808-812
1999
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Proceedings of the National Academy of Sciences - PNAS, 1998-04, Vol.95 (9), p.5407-5412
1998
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Journal of nuclear materials, 2009-07, Vol.392 (2), p.176-183
2009
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Applied surface science, 2005-04, Vol.243 (1), p.259-264
2005
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Journal of electronic materials, 2007-11, Vol.36 (11), p.1408-1414
2007
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Thin solid films, 2005-06, Vol.482 (1), p.242-247
2005
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Solid-state electronics, 2002-04, Vol.46 (4), p.477-480
2002
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Composites science and technology, 1999-08, Vol.59 (11), p.1713-1723
1999
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IEEE electron device letters, 1998-11, Vol.19 (11), p.426-428
1998
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2010 International Electron Devices Meeting, 2010, p.2.1.1-2.1.4
2010
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Polymer (Guilford), 1986-05, Vol.27 (5), p.659-666
1986
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Journal of applied physics, 1991-11, Vol.70 (10), p.5846-5848
1991
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