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Electronic device failure analysis, 2016-08, Vol.18 (3), p.10-16
2016
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2004-12, Vol.4 (4), p.696-703
2004
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Eos (Washington, D.C.), 2006-12, Vol.87 (52)
2006
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Minnesota medicine, 1990-05, Vol.73 (5), p.35
1990
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IEEE communications magazine, 2003-03, Vol.41 (3), p.120-124
2003
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Eos (Washington, D.C.), 2006-12, Vol.87 (52)
2006
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