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Complex Diagnostics of Silicon-on-Insulator Layers after Ion Implantation and Annealing
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2024-06, Vol.18 (3), p.586-593
2024
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Investigation of X-ray diffraction limitations upon the analysis of tellurium-atom injection into GaAs epitaxial layers
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2017-03, Vol.11 (2), p.361-365
2017
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TOF-SIMS 5 instrument sensitivity to matrix elements in GeSi Layers: Analysis based on recording of complex secondary ions
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2011-06, Vol.5 (3), p.591-594
2011
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Layer-by-layer analysis of structures containing δ-layers by secondary ion mass spectrometry taking into account the TOF.SIMS-5 depth resolution function
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2012-07, Vol.6 (4), p.574-577
2012
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Use of cluster secondary ions for minimization of matrix effects in the SIMS depth profiling of La/B4C multilayer nanostructures
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2010-10, Vol.4 (5), p.807-810
2010
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Analysis of GaN epilayers on sapphire substrates with GaN and AlN sublayers
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2010-11, Vol.4 (6), p.998-1001
2010
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SIMS study of annealing effect on element distribution in free-standing Al/Si and Zr/ZrSi2 multilayer films
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2010-06, Vol.4 (3), p.405-410
2010
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Photoluminescence kinetics of structures with InAs quantum dots for IR photodetectors
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2012-05, Vol.6 (3), p.505-507
2012
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Bi3+ cluster primary ions in SIMS depth profiling of YBaCuO high-temperature superconductor films
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2010, Vol.4 (4), p.594-598
2010
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Bi 3 + cluster primary ions in SIMS depth profiling of YBaCuO high-temperature superconductor films
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2010-08, Vol.4 (4), p.594-598
2010
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Manganese diffusion in ingaas/gaas quantum well structures
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2012-05, Vol.6 (3), p.508-510
2012
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Thermal stability of a freestanding EUV filter under long-term vacuum annealing at 700–1000°C
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2012-05, Vol.6 (3), p.482-486
2012
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Effect of B atoms on the properties of InAs quantum dots in the GaAs matrix
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2008-08, Vol.2 (4), p.514-517
2008
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Auger depth profiling of multilayered Mo/B sub 4 C structures
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 1998-06, Vol.13 (11), p.1411-1417
1998
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Properties of GaAs/InGaAs quantum-size structures containing δ〈Mn〉-doped layers
Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2007-02, Vol.1 (1), p.64-66
2007
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Zeitschrift / SerieSurface Investigation, X-Ray, Synchrotron And Neutron Techniques
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