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Measurement of precision for developing automatic transmission electron microscope
Surface and interface analysis, 2008-12, Vol.40 (13), p.1777-1780
2008
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A coincidence transmission electron microscope with digital waveform measuring system for analytical microscopy
Surface and interface analysis, 2006-01, Vol.38 (1), p.19-24
2006
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Phase transmission electron microscopy with aberration correction based on active defocus modulation: dynamic observation of surface atom movement
Surface and interface analysis, 2005-02, Vol.37 (2), p.248-251
2005
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Development of digital waveform measurement system for coincidence transmission electron microscopy
Surface and interface analysis, 2005-02, Vol.37 (2), p.252-255
2005
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Real-time lock-in energy loss imaging with a novel high-speed image processing CCD video camera
Surface and interface analysis, 2003-03, Vol.35 (3), p.282-286
2003
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Zeitschrift / SerieSurface And Interface Analysis
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