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Chemical Speciation by NEXAFS Spectromicroscopy: Insights from Molecular Modelling of Polymers
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 243
1996
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X-Ray Microscopy Of Multiphase Polymeric Materials
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 99
1996
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Determination Of The α-Al2O3(0001) Surface Relaxation and Termination by Measurements of Crystal Truncation Rods
MRS proceedings, 1996, Vol.437
1996
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Fermi Surface Mapping Using A Third Generation Light Source
MRS proceedings, 1996-01, Vol.437, Article 47
1996
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Resonance Photoemission at the 2p Excitation Threshold of Ni3Al
MRS proceedings, 1996, Vol.437
1996
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High Resolution Synchrotron X-Ray Diffraction Tomography Of Large-Grained Samples
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 125
1996
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Microbeam XAFS Investigations on Fluid Inclusions
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 201
1996
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Application of Mxcd to Magnetic Thin-Film Sensors
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 79
1996
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XANES Studies at N and C K-Edge of Compounds in the Ternary System Si-C-N
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 231
1996
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Anomalous X-Ray Scattering On Sr and Sr-Eu Metaphosphate Glasses
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 161
1996
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Near-Edge X-Ray Absorption Fine Structure Examination of Chemical Bonding in Sputter Deposited Boron and Boron-Nitride Films
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 207
1996
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X-Ray Absorption at Si K-Edge for Novel Compounds in the Ternary System Si-C-N
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 225
1996
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Static Atomic Displacements in Crystalline Solid Solution Alloys
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 181
1996
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Determination of Burgers Vector of Screw Dislocations in 6H-SiC Single Crystals by Synchrotron White Beam X-Ray Topography
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 129
1996
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An Observation of the Dimension Effect in the CKα- Spectra of the Ultra Dispersed Diamonds
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 149
1996
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Photoelectron Angular Distributions Of Ultrathin NI/CU(001) Films
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 39
1996
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The Fluorescence X-Ray Microprobe at the Advanced Light Source
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 113
1996
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Studies of Interface Demarcation and Structural Defects in Ga Doped Ge Single Crystals Using Synchrotron White Beam X-Ray Topography
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 107
1996
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Production and Characterization of Circularly Polarized Soft X-Rays for Materials Research at the ALS
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 73
1996
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Investigations on Fe Lattice Strain Relaxation in the Al/Fe/Al Trilayer
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 27
1996
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Complete k-Space Visualization Of X-Ray Photoelectron Diffraction
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 3
1996
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Evidence for a Structural Origin of Perpendicular Magnetic Anisotropy in PtxCo1−x Thin Film Alloys
MRS proceedings, 1996, Vol.437
1996
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Characterization of Sic Fibers by Soft X-Ray Photoelectron and Photoabsorption Spectroscopies and Scanning Auger Microscopy
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 219
1996
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Correlation Of Magnetic Dichroism in X-Ray Absorption and Photoelectron Emission using Ultrathin Magnetic Alloy Films
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 61
1996
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Grazing Incidence X-Ray Diffraction Study of A Glass-Liquid Crystal Buried Interface
MRS proceedings, 1996, Vol.437, Article 33
1996
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