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2021
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IEEE electron device letters, 2014-02, Vol.35 (2), p.178-180
2014
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IEEE electron device letters, 2023-02, Vol.44 (2), p.196-196
2023
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IEEE electron device letters, 2023-01, Vol.44 (1), p.4-4
2023
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IEEE electron device letters, 2014-05, Vol.35 (5), p.521-523
2014
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IEEE electron device letters, 2017-07, Vol.38 (7), p.855-858
2017
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IEEE electron device letters, 2016-09, Vol.37 (9), p.1104-1107
2016
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IEEE electron device letters, 2022-08, Vol.43 (8), p.1170-1170
2022
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IEEE electron device letters, 2008-04, Vol.29 (4), p.287-289
2008
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IEEE electron device letters, 2019-12, Vol.40 (12), p.1891-1891
2019
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IEEE electron device letters, 2008-08, Vol.29 (8), p.830-833
2008
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IEEE electron device letters, 2014-04, Vol.35 (4), p.440-442
2014
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IEEE electron device letters, 2022-06, Vol.43 (6), p.846-849
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IEEE electron device letters, 2008-07, Vol.29 (7), p.665-667
2008
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IEEE electron device letters, 2022-12, Vol.43 (12), p.2024-2024
2022
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IEEE electron device letters, 2022-12, Vol.43 (12), p.2023-2023
2022
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IEEE electron device letters, 2022-10, Vol.43 (10), p.1600-1600
2022
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IEEE electron device letters, 2021-11, Vol.42 (11), p.1578-1578
2021
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IEEE electron device letters, 2021-11, Vol.42 (11), p.1579-1579
2021
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IEEE electron device letters, 2022-08, Vol.43 (8), p.1169-1169
2022
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IEEE electron device letters, 2022-08, Vol.43 (8), p.1168-1168
2022
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IEEE electron device letters, 2022-07, Vol.43 (7), p.996-996
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IEEE electron device letters, 2022-07, Vol.43 (7), p.994-994
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IEEE electron device letters, 2022-07, Vol.43 (7), p.995-995
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IEEE electron device letters, 2022-04, Vol.43 (4), p.518-518
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