Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Sortiert nach
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Laser-induced breakdown spectroscopy applied to the characterization of rock by support vector machine combined with principal component analysis
Chinese physics B, 2016-06, Vol.25 (6), p.290-295
2016
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Spectroscopic measurements and terahertz imaging of the cornea using a rapid scanning terahertz time domain spectrometer
Chinese physics B, 2016-06, Vol.25 (6), p.150-156
2016
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Velocity-selective spectroscopy measurements of Rydberg fine structure states in a hot vapor cell
Chinese physics B, 2017-11, Vol.26 (11), p.66-70
2017
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Preparation and modification of VO2 thin film on R-sapphire substrate by rapid thermal process
中国物理B：英文版, 2014-04 (4), p.649-654
2014
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Channel temperature determination of a multifinger AlGaN/GaN high electron mobility transistor using a micro-Raman technique
Chinese physics B, 2012-07, Vol.21 (7), p.484-486
2012
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Intramolecular photoinduced electron-transfer in azobenzene-perylene diimide
Chinese physics B, 2010-11, Vol.19 (11), p.323-329
2010
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Studies on selected polymeric materials using the photoacoustic spectroscopic technique
Chinese physics B, 2011-06, Vol.20 (6), p.453-457
2011
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Influence of nitrogen implantation into the buried oxide on the radiation hardness of silicon-on-insulator wafers
Chinese physics B, 2010-10, Vol.19 (10), p.380-385
2010
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
1 – 8 von 8
Suche als RSS-Feed
Aktive Filter
Zeitschrift / SerieChinese Physics B
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen