Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Critical Voltage for Electrical Degradation of GaN High-Electron Mobility Transistors
IEEE electron device letters, 2008-04, Vol.29 (4), p.287-289
2008
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
A Current-Transient Methodology for Trap Analysis for GaN High Electron Mobility Transistors
IEEE transactions on electron devices, 2011-01, Vol.58 (1), p.132-140
2011
Volltextzugriff (PDF)
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Measurement of Channel Temperature in GaN High-Electron Mobility Transistors
IEEE transactions on electron devices, 2009-12, Vol.56 (12), p.2895-2901
2009
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
TEM Observation of Crack- and Pit-Shaped Defects in Electrically Degraded GaN HEMTs
IEEE electron device letters, 2008-10, Vol.29 (10), p.1098-1100
2008
Volltextzugriff (PDF)
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
A model for the critical voltage for electrical degradation of GaN high electron mobility transistors
Microelectronics and reliability, 2010-06, Vol.50 (6), p.767-773
2010
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Role of stress voltage on structural degradation of GaN high-electron-mobility transistors
Microelectronics and reliability, 2011-02, Vol.51 (2), p.201-206
2011
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
High voltage degradation of GaN High Electron Mobility Transistors on silicon substrate
Microelectronics and reliability, 2010-06, Vol.50 (6), p.758-762
2010
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Strain and Temperature Dependence of Defect Formation at AlGaN/GaN High-Electron-Mobility Transistors on a Nanometer Scale
IEEE transactions on electron devices, 2012-10, Vol.59 (10), p.2667-2674
2012
Volltextzugriff (PDF)
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Time-Dependent Dielectric Breakdown in High-Voltage GaN MIS-HEMTs: The Role of Temperature
IEEE transactions on electron devices, 2017-08, Vol.64 (8), p.3132-3138
2017
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Investigation of Trap-Induced Threshold Voltage Instability in GaN-on-Si MISHEMTs
IEEE transactions on electron devices, 2019-02, Vol.66 (2), p.890-895
2019
Volltextzugriff (PDF)
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Mechanisms for Electrical Degradation of GaN High-Electron Mobility Transistors
2006 International Electron Devices Meeting, 2006, p.1-4
2006
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
A Simple Current Collapse Measurement Technique for GaN High-Electron Mobility Transistors
IEEE electron device letters, 2008-07, Vol.29 (7), p.665-667
2008
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Application reliability validation of GaN power devices
2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2016, p.20.5.1-20.5.4
2016
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Impact of electrical degradation on trapping characteristics of GaN high electron mobility transistors
2008 IEEE International Electron Devices Meeting, 2008, p.1-4
2008
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Gate Current Degradation Mechanisms of GaN High Electron Mobility Transistors
2007 IEEE International Electron Devices Meeting, 2007, p.385-388
2007
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Impact of gate placement on RF power degradation in GaN high electron mobility transistors
Microelectronics and reliability, 2012, Vol.52 (1), p.33-38
2012
Volltextzugriff (PDF)
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
RF power degradation of GaN High Electron Mobility Transistors
2010 International Electron Devices Meeting, 2010, p.20.2.1-20.2.4
2010
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Glitch Recall: A Hardware Trojan Exploiting Natural Glitches in Logic Circuits
Information Security Applications, 2018, Vol.10763, p.150-161
2018
Volltextzugriff (PDF)
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Buildability and Mechanical Properties of 3D Printed Concrete
Materials, 2020-11, Vol.13 (21), p.4919
2020
Volltextzugriff (PDF)
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Interlayer Strength of 3D-Printed Mortar Reinforced by Postinstalled Reinforcement
Materials, 2021-11, Vol.14 (21), p.6630
2021
Volltextzugriff (PDF)
1 – 20 von 20
Suche als RSS-Feed
Aktive Filter
KollektionIngenta
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen