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2000 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers (Cat. No.00CH37056), 2000, p.222-223
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Proceedings 1992 IEEE International Conference on Robotics and Automation, 1992, Vol.ol. 1, p.534-541 vol.1
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Functional test using behavior models
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1984-07, Vol.3 (3), p.208-217
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